（本網(wǎng)訊）近日，陜西省人民政府頒布《關(guān)于2021年度陜西省科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)勵(lì)的決定》（陜政字〔2022〕21號(hào)），根據(jù)相關(guān)文件精神，我校作為牽頭單位主持完成2項(xiàng)科技成果獲獎(jiǎng)，其中劉衛(wèi)國(guó)教授團(tuán)隊(duì)主持完成的科研成果（專(zhuān)用項(xiàng)目）獲陜西省科學(xué)技術(shù)進(jìn)步獎(jiǎng)一等獎(jiǎng)，梁海峰教授團(tuán)隊(duì)主持完成的科研成果“光學(xué)透鏡核心參數(shù)檢測(cè)方法及關(guān)鍵技術(shù)”獲陜西省技術(shù)發(fā)明獎(jiǎng)二等獎(jiǎng)。

本次我校獲得陜西省科學(xué)技術(shù)進(jìn)步獎(jiǎng)一等獎(jiǎng)，是學(xué)校近幾年在省部級(jí)科技獎(jiǎng)勵(lì)上的又一次突破。近年來(lái)，學(xué)校高度重視高層次獎(jiǎng)項(xiàng)的培育、申報(bào)和管理，不斷加強(qiáng)頂層設(shè)計(jì)，挖掘科研成果獎(jiǎng)勵(lì)申報(bào)的增長(zhǎng)點(diǎn)，為學(xué)校學(xué)科建設(shè)、人才建設(shè)、學(xué)校綜合實(shí)力等方面提供強(qiáng)有力的科技支撐，也為今后申報(bào)國(guó)家級(jí)獎(jiǎng)項(xiàng)奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。下一步，學(xué)校將繼續(xù)聚焦學(xué)科前沿、強(qiáng)化基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，加強(qiáng)技術(shù)創(chuàng)新和成果轉(zhuǎn)化，注重大平臺(tái)、大團(tuán)隊(duì)、大項(xiàng)目、大成果的整體規(guī)劃和密切關(guān)聯(lián)，努力產(chǎn)出具有重大基礎(chǔ)理論的科技成果和重大應(yīng)用前景的科技成果。

2021年度共有260項(xiàng)科學(xué)技術(shù)成果獲得陜西省科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)，其中一等獎(jiǎng)48項(xiàng)、二等獎(jiǎng)115項(xiàng)、三等獎(jiǎng)97項(xiàng)。

“光學(xué)透鏡核心參數(shù)檢測(cè)方法及關(guān)鍵技術(shù)”簡(jiǎn)介：

完成人：梁海鋒，李世杰，陳強(qiáng)，馬衛(wèi)紅，蔡長(zhǎng)龍，劉纏牢

完成單位：西安工業(yè)大學(xué)，中國(guó)科學(xué)院光電技術(shù)研究所

成果簡(jiǎn)介：

常用的透射類(lèi)光學(xué)元件（光學(xué)透鏡）的評(píng)價(jià)參數(shù)包括中心偏、中心厚和面形，傳統(tǒng)的車(chē)間檢測(cè)方法對(duì)這些參數(shù)的檢測(cè)精度低，且均為接觸測(cè)量，遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能適應(yīng)現(xiàn)代高精度光學(xué)系統(tǒng)的要求。針對(duì)光學(xué)元件的三個(gè)核心參數(shù)的非接觸、高精度、高效率現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的技術(shù)難題，項(xiàng)目組在國(guó)家項(xiàng)目、省部級(jí)項(xiàng)目、企業(yè)需求項(xiàng)目的牽引下，開(kāi)展非接觸檢測(cè)技術(shù)的深入研究和檢測(cè)設(shè)備的研發(fā)，大幅度提高檢測(cè)精度；同時(shí)極大提高了檢測(cè)效率、適應(yīng)各類(lèi)軟質(zhì)材料、減低人為判斷誤差。發(fā)明基于白光光譜掃描的光學(xué)元件中心厚度非接觸測(cè)量技術(shù)，研發(fā)了中心厚度測(cè)試測(cè)量設(shè)備，解決了中心厚度測(cè)量過(guò)程中主觀(guān)誤差顯著、效率低、易劃傷表面的難題。發(fā)明了基于高精度位置探測(cè)的非接觸光學(xué)元件中心偏測(cè)試技術(shù)，研發(fā)了中心偏實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和測(cè)試設(shè)備，解決了光學(xué)元件定心磨邊過(guò)程中的擠壓定心精度不可控，且易劃傷元件表面的技術(shù)難題。發(fā)明了基于計(jì)算全息圖的非球面面形檢測(cè)技術(shù)，開(kāi)發(fā)了面形高精度測(cè)試裝置與平臺(tái)，解決了光學(xué)非球面面形檢測(cè)中的計(jì)算全息圖制造誤差和檢測(cè)系統(tǒng)中的對(duì)準(zhǔn)誤差難以標(biāo)定的技術(shù)瓶頸。開(kāi)發(fā)出商品化的中心厚、中心偏、面形測(cè)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用并批量裝備到企業(yè)，具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。

文/圖：于浩 審核：肖鋒 編輯：楊飛